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HAST壽命試驗(yàn)箱

簡要描述:HAST壽命試驗(yàn)箱是一種用于加速濕熱條件下芯片、元器件等電子產(chǎn)品的老化失效試驗(yàn)設(shè)備。HAST全稱為Highly Accelerated Stress Test,即高度加速應(yīng)力試驗(yàn)。它可以在相對較短的時(shí)間內(nèi)對電子元器件的性能和可靠性進(jìn)行評估,節(jié)省了測試時(shí)間和成本。HAST試驗(yàn)箱主要包括試驗(yàn)箱本體、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、壓力系統(tǒng)、溫濕度控制系統(tǒng)、安全保護(hù)系統(tǒng)等部分。廣泛包括集成電路、半導(dǎo)體器件、電子元

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-07-16
  • 訪  問  量:949

詳細(xì)介紹


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HAST壽命試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
1.採用臺制臺達(dá)彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(採用PT-100白金感溫體).
2.採用指針顯示壓力錶.
3.微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.
4.手動入水閥(自動補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)).
hast高壓加速壽命試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);

HAST壽命試驗(yàn)箱在以下領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用:

集成電路(IC):HAST試驗(yàn)箱可以對芯片進(jìn)行加速老化測試,評估其在高溫高濕環(huán)境下的可靠性和壽命,幫助提高芯片的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

半導(dǎo)體器件:HAST試驗(yàn)箱可用于測試各種類型的半導(dǎo)體器件,包括二極管、晶體管、功率模塊等。通過加速老化測試,可以評估器件的可靠性和失效機(jī)制。

電子元器件:HAST試驗(yàn)箱適用于各種電子元器件的壽命測試,如電容器、電阻器、電感器、連接器等。它可以模擬潮濕環(huán)境對元器件的影響,評估其性能和可靠性。

航空航天器件:HAST試驗(yàn)箱可用于測試航空航天器件的可靠性和耐久性,包括航天器電子設(shè)備、傳感器、通信設(shè)備等。它可以模擬航空航天環(huán)境中的高溫高濕條件,評估器件在環(huán)境下的性能。

汽車電子:HAST試驗(yàn)箱在汽車電子領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。它可以對汽車電子元器件進(jìn)行壽命測試,評估其在潮濕環(huán)境下的可靠性和耐久性,確保汽車電子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。

醫(yī)療電子:HAST試驗(yàn)箱可用于測試醫(yī)療電子設(shè)備的可靠性和耐久性,如醫(yī)療監(jiān)護(hù)儀、手術(shù)設(shè)備、診斷設(shè)備等。它可以模擬醫(yī)療環(huán)境中的高溫高濕條件,評估設(shè)備在長期使用中的性能表現(xiàn)。


 

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