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PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱是一種專門用于模擬環(huán)境條件，對產(chǎn)品進(jìn)行老化試驗(yàn)的設(shè)備。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，各種產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是十分重要的，而產(chǎn)品的老化試驗(yàn)則是評估其可靠性和耐用性的重要手段。通過模擬高溫高濕的環(huán)境，對產(chǎn)品進(jìn)行長時(shí)間穩(wěn)定的老化試驗(yàn)，以驗(yàn)證其耐用性和性能表現(xiàn)。

PCT試驗(yàn)箱是一種專門用于模擬環(huán)境條件，對產(chǎn)品進(jìn)行老化試驗(yàn)的設(shè)備。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，各種產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是十分重要的，而產(chǎn)品的老化試驗(yàn)則是評估其可靠性和耐用性的重要手段。通過模擬高溫高濕的環(huán)境，對產(chǎn)品進(jìn)行長時(shí)間穩(wěn)定的老化試驗(yàn)，以驗(yàn)證其耐用性和性能表現(xiàn)。

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印刷電路板（PCB）HAST非飽和老化試驗(yàn)箱又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn)等行業(yè)。

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